Описание
Микроскопы МОМ отсчетные используют для измерения отпечатка (лунки), которая образуется на поверхности различных металлов при определении твердости по методу Бринелля. Также микроском используется для оперативного контроля крупногабаритных деталей.
Существуют два типа микроскопов МОМ: с общим 20х кратном увеличением – МОМ-20 и общим 40х кратном увеличенем – МОМ-40.
Характеристики
|
Тип |
Увеличение, крат |
|||||
|
Общее |
Объектив |
Окуляр |
Фокусное расстояние, мм |
Цена деления, мм |
Подсветка |
|
|
МОМ-20 |
20x |
1x |
20x |
30 |
0,01 |
- |
|
МОМ-40 |
40x |
2x |
20x |
30 |
0,05 |
- |
Модификации
- Микроскоп отсчетный МОМ-20
- Микроскоп отсчетный МОМ-40
