Дефектоскоп ПМД-70

Дефектоскоп ПМД-70 по своей конструкции подтверждает наличие дефектоскопической системы порошкового типа, рассчитанную на выявление поверхностного либо подповерхностного дефекта. Выявление происходит через магнитопорошковый поисковый метод или магнитолюминесцентный поисковый метод. Устройство предназначается для анализа веществ, которые имеют показатель относительной магнитной проницательности не менее 40.

Область применения дефектоскопов ПМД-70

Дефектоскопы предложенного типа рассчитаны для функционирования в цехах, лабораториях, а также полевых условиях. При помощи этих устройств можно будет выполнять контроль деталей разных по форме, сварных швов, внутренних поверхностей отверстий.

Принцип выполнения измерений

В процессе проведения измерений используются два способа контроля – по остаточной намагниченности или в приложенном поле. Используется шесть схем намагничивания, владеющего  четырьмя вариантами тока и 3-мя вариантами намагничивания: вариант циркулярный, вариант полюсный, вариант комбинированный.

Намагничивание проводится либо отдельных участков, либо всей детали продольным или циркулярным магнитным полем, которое генерируется устройствами, питаемыми импульсным током (гибкий кабель, электроконтакты) либо постоянным током (соленоид, электромагнит).

Отличительные особенности дефектоскопов

Дефектоскоп ПМД-70 поддерживают размагничивание деталей после окончания измерений. Можно проводить документирование проводимых измерений, которое может реализовываться посредством изготовления магнитограмм имеющихся дефектов. Магнитограмма может выполняться посредством снятия отпечатка на полиэтиленовой ленте или на подобного рода материалах, а также методом фотографирования.